数字电子技术基础实验
杨刚
第1版 (2004年1月1日)
出版时间：
2004-1-1
出版社：
第1版 (2004年1月1日)
作者：
杨刚
页数：
162
字数：
269000
内容概要
本教材是根据高等院校理工科本科的数字电子技术实验课程基本要求编写的。书中实验内容丰富，包含原理性、验证性实验和设计性实验，具有实物实验与以Multisim 2001为代表EDA设计仿真实验紧密结合的特点，并含有可编程逻辑器件设计实验。书后附录部分包含内容详细的Multisim 2001的使用指南，并附有实验中常用的数字器件引脚图和逻辑功能表，供读者查阅。本书可作为高等院校电类和非电类专业本科生、专科生教材，亦可作为电视大学、职业大学、业余大学以及远程教育、网络教育中的电类和非电类专业的电子技术实验教学用书
书籍目录
实验一 TTL和CMOS门电路参数的测试实验二 基本门电路逻辑功能验证实验三 OC门和三态门的应用实验四 编码器和译码器实验五 数据选择器实验六 组合逻辑电路的应用实验七 触发器实验八 寄存器实验九 数值比较器实验十 CMOS器件功能测试实验十一 计数器实验十二 半加器和全加器的逻辑功能验证实验十三 逻辑电路的竞争冒险现象实验十四 脉冲的产生与整形实验十五 555定时器功能及应用实验十六 存储器实验十七 数模转换器实验十八 模数转换器实验十九 用PLD实现74LS138功能实验二十 用PLD实现74LS90功能 附录A Multisim 2001使用指南 附录B NET-lI数字实验系统的结构及使用说明 附录C 数字集成电路引脚排列图
图书封面
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