数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 Alfred L.Crouch 中国电力出版社 出版时间：2004-1-1出版社：中国电力出版社作者：Alfred L.Crouch页数：347 图书封面 下载链接 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计PDF格式下载
