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MEMS可靠性

(美)哈策尔,(美)席尔瓦,(瑞士)谢伊 著,恩云飞,贾玉斌,黄钦文 译 电子工业出版社
出版时间:2012-11
出版社:电子工业出版社
作者:(美)哈策尔,(美)席尔瓦,(瑞士)谢伊 著,恩云飞,贾玉斌,黄钦文 译
页数:220
字数:378000
译者:恩云飞
Tag标签:无

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