互换性与技术测量 楼应侯，孙树礼，卢桂萍 著 华中科技大学出版社 出版时间：2012-8出版社：华中科技大学出版社作者：楼应侯，孙树礼，卢桂萍 著页数：227 图书封面 下载链接 互换性与技术测量PDF格式下载
